Estensimetri per micro deformazioni

KSN, KSP, KSPL, KSPH - a Semiconduttore con elevato Gage-Factor

Estensimetri a semiconduttore disponibili in versioni bi o mono assiali, con varie dimensioni della griglia, offrono elevato gage-factor, da 60 a 200 e sono particolarmente indicati per micro deformazioni e per la costruzioni di trasduttori ad alta sensibilità.

KSN
: impiegano un elemento resistivo al silicio tipo N per controllare il coefficiente di dilatazione termica del materiale in accordo all’espansione lineare dell’oggetto misurato, così da minimizzare la variazione termica di resistenza. Versioni mono assiali da 120 o 350 Ω, bi assiali da 120 Ω. Temperatura comp. 20÷70°C, oper. -50÷150°C; coeff. di espansione lineare: 11, 16.
Adesivi: PC-12 e EP-17 da -50 a 150°C o CC-33 da -50 a 120°C.

KSP: elevata stabilita a lungo termine, per misure generiche di stress e per la realizzazione di trasduttori di misura.
Il tipo F2 è a ½ ponte per la compensazione termica ed e adatto per misure di deformazione su acciaio. Versioni mono assiali da 120, 350 o 1 kΩ e mono assiali a doppio elemento da 120 Ω. Temperatura oper. -50÷150°C.
Adesivi: PC-12 da -50 a 150°C o CC-33 da -50 a 120°C.

KSPL: hanno variazione di resistenza lineare anche in un campo di deformazione molto ampio; sono indicati per la realizzazione di trasduttori di misura. Versioni mono assiali da 60 Ω; temperatura oper. -50÷150°C; gage-factor, circa 90.
Adesivi: PC-12 da -50 a 150°C o CC-33 da -50 a 120°C. 

KSPH: hanno resistenza particolarmente alta, consentono cosi elevate tensioni di alimentazione del ponte per un elevato segnale di uscita. Versioni mono assiali da 2 o 10 kΩ; temperatura oper. -50÷ 150°C; gage-factor, circa 170.
Adesivi: PC-12 da -50 a 150°C o CC-33 da -50 a 120°C.

Estensimetri serie KSN
Estensimetri serie KSN
Estensimetri serie KSP
Estensimetri serie KSP
Estensimetri serie KSPL / H
Estensimetri serie KSPL / H

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Kyowa - Catalogo Generale Estensimetri
Catalogo generale Estensimetri Elettrici. 56 pagine in italiano, illustrate a colori con tutti i modelli; teoria e note applicative.
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